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塑料包裝袋厚度測量儀
塑料包裝袋厚度測量儀
基于光學干涉原理的測量儀則充滿了科技感，它利用光的反射、折射等特性來計算薄膜厚度。當一束光照射到塑料包裝袋薄膜上時，部分光在薄膜表面反射，部分光透過薄膜并在底面反射回來，兩束光相遇就會產生干涉現象 。由于薄膜的折射率不同，兩束光在薄膜中行進的路徑長也不同，因此會產生相位差，這個相位差就決定了干涉的強度 。通過分析干涉圖案或干涉條紋，就可以計算出薄膜的厚度 。
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